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Test automatique, la vision de National Instruments

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Par publié le à 10h46

Test automatique, la vision de National Instruments

Un rapport qui dresse les tendances

Le fabricant d’instrumentation profite de sa forte implantation dans le secteur et de dizaines d’années d’expérience en test automatique pour dégager tous les ans les dernières tendances en matière de stratégies commerciales, d’architectures, d’informatique, de logiciels et d’E/S influençant les industries électroniques à court et plus long terme.
 

National Instruments publie tous les ans un rapport sur les Perspectives du test automatique, qui présente les résultats des recherches de l’entreprise en matière de technologies et méthodologies dans le domaine du test et de la mesure.

Ce rapport s’appuie sur des données issues de recherches universitaires et industrielles, de forums sur Internet, d’enquêtes menées auprès d’utilisateurs, de la veille économique, ainsi que des retours de clients. Avec ces données comme fondement, il dresse un tableau des tendances, afin de relever les défis techniques et économiques en test et mesure.

Ce rapport détaille des tendances qui concernent de nombreuses industries, telles que l’électronique grand public, l’automobile, les semi-conducteurs, l’aérospatiale et la défense, les dispositifs médicaux ainsi que les communications. Grâce aux informations fournies par ce rapport, ingénieurs et responsables vont pouvoir tirer parti des dernières stratégies et des meilleures pratiques permettant d’optimiser toute organisation de test.

La version 2012 de ce rapport, qui se divise en cinq catégories (Stratégie commerciale, Architectures, Traitement, Logiciel et E/S) détaille les tendances suivantes :
 

  • Optimisation des organisations de test : les sociétés considèrent de plus en plus l’ingénierie de test comme un atout stratégique pour gagner une longueur d’avance sur la concurrence ;
  • Mesures et simulation dans le processus de conception : combiner des modèles sophistiqués avec des mesures réelles améliore la qualité des produits et réduit leur temps de développement ;
  • Interfaces externes PCI Express : le bus haute vitesse et basse latence interne au PC permet de créer de nouvelles topologies de système dotées d’interfaces externes améliorées ;
  • Prolifération de matériels mobiles : la multiplication des “smartphones” et des tablettes est en train de bouleverser la façon dont les systèmes de test sont pilotés ;
  • Algorithmes de mesure portables : les nouveaux outils permettent de développer des IP de mesure une seule fois pour les déployer ensuite sur divers éléments de traitement.
     

Ce rapport s’inscrit dans le cadre du NI Test Leadership Council, que National Instruments a créé pour partager les meilleures pratiques recueillies auprès de milliers de clients du monde entier dans une grande variété d’industries. Le NI Test Leadership Council facilite les discussions entre leaders du test afin de garantir des échanges de qualité à la fois commerciaux et techniques.

Jean-François Prevéraud

Pour en savoir plus : http://www.ni.com/ato/f
 

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