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Un rapport sur les perspectives du test automatisé

Ridha Loukil
Publiée par National Instruments, l’édition 2011 dresse les prochaines tendances dans le monde du test et mesure susceptibles d’influencer l’ensemble de l'industrie.

L’édition 2011 du rapport sur les Perspectives du test automatisé vient d’être publiée par National Instruments. Elle présente les résultats des recherches de l’entreprise américaine sur les technologies et méthodologies de test et de mesure. Le rapport détaille des tendances qui concernent de nombreuses industries, telles que l’électronique grand public, l’automobile, les semi-conducteurs, l’aérospatial et la défense, les dispositifs médicaux, ainsi que les communications.

Le rapport s’appuie sur des données issues de recherches universitaires et industrielles, de forums en ligne, d'enquêtes auprès des utilisateurs, de la veille économique, ainsi que des retours d’expérience de clients. Il se divise en cinq catégories : Stratégie commerciale ; Architectures ; Traitement ; Logiciels et E/S.

Parmi les principales tendances abordées, on peut citer :
 

  • L’intégration du test dans l'organisation globale : intégrer le test en validation et en production nécessite de se concentrer sur les changements apportés à la stratégie, aux processus, aux personnes et à la technologie ;
     
  • L'architecture logicielle système : un framework logiciel parfaitement intégré fournit une architecture système flexible permettant d'ajouter des capacités de mesure et de réduire les temps de test ;
     
  • Le calcul hétérogène : les futurs systèmes de test vont nécessiter différents types de nœuds de traitement, afin de satisfaire les besoins de plus en plus contraignants en matière d’analyse et de calcul ;
     
  • La propriété intellectuelle : le fait de partager des blocs IP (propriétés intellectuelles) et composants programmables FPGA (field-programmable gate array) entre la conception et le test raccourcit considérablement la vérification et la validation de conception, tout en améliorant les temps de test en production et la couverture de défauts.


Le rapport 2011 est consultable en ligne sur http://www.ni.com/ato

Ridha Loukil

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