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Le testeur de cartes électroniques réduit sa taille

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Le modèle 4250 d'IFR

Le lancement sur le marché d'une nouvelle génération de testeur de cartes électroniques n'est jamais anecdotique. Les fabricants de systèmes de test ne sont pas des constructeurs de PC qui changent de gamme tous les trois à six mois. Bien entendu, leurs testeurs se dotent au fil des ans de nouvelles fonctionnalités. Mais le développement d'une toute nouvelle plate-forme se fait plus rare.

Le concepteur de solutions de test IFR, qui a été repris en juin dernier par le groupe américain Aeroflex, ne déroge pas à cette règle. Alors que le lancement sur le marché du testeur 4220 date de 1998, il annonce aujourd'hui la sortie du modèle 4250.

La nouvelle plate-forme de test automatique se démarque de son aîné par un encombrement réduit, une architecture de test non multiplexée et une vitesse de test accrue.

Pour la cadence de test, IFR avance des chiffres précis. Pour une carte comptant 500 points de test, le modèle 4250 peut traiter 280 cartes électroniques par heure alors que le modèle 4220 plafonne à 225.

Alors que le testeur 4250 offrait une architecture de test multiplexé (1 driver/sensor pour 4 points de test), pour le 4250, IFR a opté pour une architecture non multiplexée dite ' pure pin ' (1 driver sensor pour 1 point de test). Les deux testeurs offrant jusqu'à 2048 broches de test, cela veut dire que le 4220 ne peut tester qu'un boîtier électronique de 512 broches alors qu'à la limite, le 4250 peut aller jusqu'à 2048.

' Cette architecture pure pin élimine les contraintes de répartition des points de test et de câblage des interfaces imposées par les systèmes multiplexés. Cette caractéristique permet l'amélioration du test des circuits complexes d'aujourd'hui de type Asic (Application Specific Integrated Circuit) ou CPLD (Complex Programmable Logic Device). Elle simplifie de surcroît les éventuelles modifications techniques tout en facilitant l'utilisation de programmes de test et d'interface non-IFR ', explique Edmond Weigant, responsable des ventes de la société.

La compatibilité ascendante n'a pas été oubliée. ' L'utilisation d'un environnement de programmation et d'interfaces similaires garantissent la compatibilité totale du 4250 avec les modèles précédents, assurant la protection de l'investissement déjà consenti dans les interfaces et les programmes de test ', assure Brian Jeffrey, directeur des ventes et du marketing chez IFR.

Pour séduire les fabricants de cartes électroniques pour qui la place est comptée, le 4250 se fait tout petit. Il occupe une surface au sol de 1,1 mètre carré. Et son volume a été réduit de 33% par rapport à celui de son prédécesseur. Ce volume comprend tout le matériel nécessaire au fonctionnement du testeur depuis les alimentations jusqu'au contrôleur PC qui tourne sous Windows 2000. Ainsi, les baies d'alimentations des dispositifs sous test et l'unité centrale du PC ne ' traînent ' plus autour du testeur.

Le châssis de ce testeur a été conçu en pensant au confort de l'opérateur. Lorsque l'opérateur travaille assis, il pourra glisser ses jambes dans l'espace libre qui leur est destiné. C'est simple mais il fallait tout de même y penser. Imaginez de devoir travailler plusieurs heures devant votre PC sans pouvoir passer vos jambes sous le bureau !

YB

Pour en savoir plus : une brochure en anglais sur le testeur 4250 est disponible au format pdf

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