Le SurPhase de PhaseView est un dispositif optique simple, rapide, précis et économique pour mesurer en 3D la topographie de surfaces. Il permet leur caractérisation et des mesures 3D telles que les paramètres de profil, hauteur, rugosité et ondulations.
À la différence d'équipements de métrologie complexes et coûteux, SurPhase est un instrument de mesure 3D particulièrement économique en raison de l'utilisation de composants optiques standard. Cette technologie innovante permet des performances métrologiques élevées. En s'affranchissant de procédures fastidieuses de calibrage et de paramétrage, en moins de 5 secondes, vous obtenez une topographie 3D de vos échantillons avec une précision nanométrique.
SurPhase combine la vidéo microscopie 2D et la mesure automatisée 3D, avec une grande simplicité d'utilisation. Une simple pression sur un bouton permet l'acquisition et le traitement rapide des échantillons observés, puis l'analyse et la mesure de topographie. SurPhase est un système métrologique certifié produisant des mesures selon les normes internationales.
Jean-François Prevéraud
Pour en savoir plus : http://www.phaseview.net
