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Les défaillances électriques sous contrôle

S. E.
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Une technologie d'analyse de défaillances dans les circuits intégrés, conçue chez STMicroelectronics a été primée. Elle a valu à son inventeur Luc Saury un prix dans la catégorie « tests automatisés » lors des Graphical Design System Achievement Awards, une cérémonie organisée par[…]

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