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Les défaillances électriques sous contrôle

Sophie Eustache

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Une technologie d'analyse de défaillances dans les circuits intégrés, conçue par Luc Saury, expert technique en analyse de défaillance électrique chez STMicroelectronics, a valu à son inventeur un prix dans la catégorie « tests automatisés » lors des Graphical Design System Achievement Awards, une cérémonie organisée par National Instrument.

Il s’agit de repérer l’emplacement d’un défaut physique qui entraîne un dysfonctionnement sur un circuit intégré en utilisant la technique de simulation thermique laser. « Elle consiste à mesurer les variations d’un paramètre électrique induites par un[…]

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