Saviez-vous que la charge électrique associée au bit stocké dans une cellule mémoire de circuit intégré n'est que de quelques femtocoulombs, soit l'équivalent d'un tout petit paquet de 10000 électrons ?
C'est le type d'information que l'on pouvait recueillir les 26 et 27 février 2003, à Paris, lors des journées consacrées à 'l'influence de l'environnement radiatif naturel sur la fragilité des systèmes électroniques'.
Organisées par l'Asprom (Association pour la promotion des microtechnologies,), ces deux journées avaient pour but de sensibiliser les designers et utilisateurs de circuits intégrés aux dangers que représentent les radiations ionisantes pour la sécurité de l'information. Une menace de plus en plus consistante, en effet, avec la diminution de la géométrie des puces et l'augmentation des fréquences d'horloge.
'L'interaction d'une seule particule de haute énergie avec un transistor peut suffire à perturber gravement une information, a-t-il été dit. Ces perturbations (basculement de cellules mémoires ou de registres logiques) affectent la stabilité des circuits et augmentent le nombre de pannes '.
Les effets de ces particules, connus sous le nom de SEV (Single Event Upset), sont aujourd'hui familiers pour la plupart des équipementiers spatiaux et avioniques. Mais au niveau du sol, les serveurs, routeurs, systèmes médicaux et autres automates, sont, eux aussi, déjà exposés. 'Et ils le seront davantage avec les prochaines générations de composants', ont affirmé les experts réunis pour l'occasion.
Alors que faire ? Ce colloque a présenté plusieurs pistes, tant au niveau de la prédiction des erreurs que de leur correction.
Preuve que cette problématique suscite de plus en plus de questions, une société française, baptisée Iroc Technologies, a même été créée pour venir en aide aux designers soucieux de durcir efficacement leurs circuits.
Jean-Charles Guézel
Pour en savoir plus
- Site d'Iroc technologies : http://www.iroctech.com/
