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Analyse thermique sous charge pour l'électronique de puissance

Jean-François Preveraud

Un testeur de transistors IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor - transistor bipolaire à grille isolée), qui couple pour la première fois l’analyse thermique du composant avec un cyclage sous charge est lancé par Mentor Graphics.

« Notre Micred Power Tester 1500A résulte de la combinaison de notre testeur de caractérisation thermique dynamique de composants électroniques T3Ster avec un outil de cyclage permettant de reproduire rapidement les multiples changement d’états sous charge que subira le composant tout au long de sa vie », a précisé à Industrie & Technologies, John Parry responsable des activités électroniques de la Mechanical Analysis Division de Mentor Graphics. « Les IGBT doivent résister à des centaines, voire des milliers de changements d’états durant leur vie, mais ces composants qui sont utilisés comme interrupteurs sur les circuits de[…]

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